GIS局部放电会造成哪些危害？
GIS局部放电的缺陷主要有四种，
(1)固定缺陷。
(2) GIS腔体内可以移动的自由金属微粒。
(3) 传导部分接触不良。
(4) 绝缘子制造时造成的内部空隙和实验闪络引起的表面痕迹，还包括或是因电极的表面粗糙或是来自制造时嵌入的金属微粒。
主要危害是会逐步引起绝缘击穿，导致安全事故。
拓展资料
gis局部放电特高频检测的仪器，最早进入国内的都是进口产品，包括英国dms公司，当时国内局放技术还不成熟的时候，dms最早进入，由新加坡电力引入的。后来成为检测gis局部放电的一种参考标准。
后来的德国pdsg公司的产品也进入中国，此类产品主要用于实验室内的研究，在现场使用需要很强的技术能力来操作。
上述是代表性的国外进口产品，从目前gis局放检测的发展来看，检测gis需要两种以上的方式，即特高频和超声波同时使用是有效的检测方式。
国内的生产厂家包括，厦门红相公司、杭州西湖电子、上海华乘电气等，从目前现场使用情况来看，在现场复杂的电力运行环境中，有效的检测和判断分析gis的局放信号，上海华乘电气的产品适合现场的复杂环境检测，检测的判断准确性比较高。甚至已经超过国外进口产品的性能。实战经验比较多，适合于现实中的实际操作。
其他公司的产品也有各种代表，从现场的使用情况来看，都不尽相同，也有准确度的差别。
